ROM的检测ROM中固化了仪器的监控程序、工作程序和常数表格。ROM的检测就是要考核各存储单元的代码或常数在读出时是否会出错。采用的方法是验证所有读出的存储单元各对应位代码的异或和是否正确。将用于校验的正确的代码和预先与程序一起固化在ROM中。自检时，依次读ROM的存储单元。每读一次代码值，要与前面各项读数的代码和进行按位相加。最后获得的总的代码和与标准的代码和做比较，如一致，说明ROM正常，下面具体说明对ROM的检测。

设datal为程序的起始地址， data2为程序的结束地址， data3为代码校验和的存储单元地址，仪器采用的是MCS 51系列单片机，则可用下列汇编程序自诊断ROM的工作情况。

TROM： MOV DPTR，  data2 PUSH DPH PUSH DPL MOV DPTR，  datal CLR B LP1： CLR A MOVC A， @ A + DPTR XRL B， A POP A MOV R1， A CJNE A， DPL， LP3 POP A MOV R2， A 25CJNE A， DPH， LP2 A JM P LP4 LP2： PUSH R2 LP3： PUSH R1 INC DPTR A JM P LP1 LP4： MOV DPTR，  data3 CLR A MOVC A， @ A+ DPTR XRL A， B JNZ ERR RET ERR： ERR是ROM出错处理程序的入口。

I/O端口的自检I/O端口的自检，可采用环绕技术，即将输出端口和输入端口连接起来，给输出口写入测试矢量，从输入口读入，然后进行比较，即可确定有无故障。以MCS 51系列芯片为例进行说明。串行I/O的自检M CS 51机的串行口为全双工接口，发送和接收可以同时进行，可将其输出TXD和输入RXD连接起来进行自检。如所示，当多路分配器的开关位于a时，RXD和TXD与原电路相接，电路处于正常工作方式。位于d时， RXD与TXD互联，用于串行口自检。位于b和c时，用于并行口和总线的自检。

串行I/O口的自检原理图在串行口自检时，先开放RXD，然后给TXD写测试矢量。最后从RXD读入数据，与刚才写入的测试矢量比较，确定有无故障。下面的程序只测试了串行口的工作方式1，工作方式2和3的测试方法类同，只需改变串行口的控制寄存器SCON的初始值即可。

STRT： MOV TMOD，  20H； T1初始化，确定串行口MOV TL1，  0E8H；传送速率为1200波特MOV TH1，  0E8H MOV SCON，  50H；串行口设置工作方式1，允许RXD接收SETB TR1；启动定时器工作MOV R4，  0H MOV DPTR， MVCT LP1： MOV A， R4 MOV A， @ A + DPTR MOV SBUF， A；由TXD发送串行数据MOV R5， A LP2： JBC R I， LP3；接收寄存器SBUF满否SJM P LP2 LP3： MOV A， SBUF；读取由RXD接收的数据CJNE A， B， SERR INC R4 CJNE RE，  5H， LP1 RET MVCT： DB 00H， OFFH， OAAH， 55H SERR： SERR为出错处理程序的入口4 2并行口P 1的自检MCS 51机的并行口有4个， P 0、P 2、P 3都是专用口，只有P 1口可供用户作并行输入输出口编程使用。为了测试P 1口，可以利用串行口RXD和TXD，如所示。此图即为中多路分配器开关位于b和c时的情况。当串行口工作方式0时， RXD既可作串行输出口使用，给外部移位寄存器输出数据，又可作串行输入口使用，从外部移位寄存器接收数据。而TXD可为外部移位寄存器提供移位脉冲。

P 1口的自检原理图当RXD作为输出口工作时，先将数据串行移入74LS164中，再由P 1口并行读入，进行比较。当RXD作为输入口工作时，先将数据并行写入P 1口，然后并行输入74LS166中，再串行地移入RXD中进行比较，便可以确定串行口在方式0时是否工作正常，或者P 1口并行输入输出功能是否正常。总线的自检若RAM和ROM的自检能顺利进行，则可以确定地址总线和数据总线工作正常。但当ROM和RAM的自检同时有毛病，则可能是总线有问题。中国粮油仪器网 http://www.grainyq.com/